Microscopía óptica coherente por interferometría de baja coherencia de una sola rama aplicada a la caracterización de topografía de superficies

Autores
Sallese, Marcelo; Torga, Jorge Román; Tabla, Pablo; Morel, Eneas Nicolás
Año de publicación
2016
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión publicada
Descripción
En este trabajo se presenta la técnica de microscopia óptica coherente basada en la interferometría de baja coherencia en el dominio de las frecuencias (FD-OCM por sus siglas en ingles) en un esquema experimental que propone un interferómetro en una sola rama que incluye un novedoso dispositivo para alojar la muestra y realizar un barrido. La medición se realiza enfocando un haz de luz láser sobre cada punto de la muestra y realizando un barrido en dos dimensiones, sobre el área deseada. El sistema permite medir distancias de varios milímetros con una resolución espacial en el orden del micrón y permite barridos en el orden del centímetro. Puede ser utilizado en una variedad de materiales tanto líquidos como sólidos. Se presentan resultados en la medición de topografía de superficies metálicas, vidrios y líquidos. Se muestran posibles aplicaciones en el análisis de ángulos de contacto, determinación de volúmenes y superficies y estudios de rugosidad. Se describe la idea general del método, se muestra un esquema experimenta simple como alternativa a las técnicas convencionales en el monitoreo y estudio de materiales. Se presentan imágenes obtenidas en topografías y tomografías de distintas muestras con distintos parámetros de interés. Se discute las posibilidades de implementar un sistema experimental sencillo que podría ser utilizado en ambientes fuera de un laboratorio de investigación.
Fil: Sallese, Marcelo. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo Fotonica Aplicada.; Argentina
Fil: Torga, Jorge Román. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo Fotonica Aplicada.; Argentina
Fil: Tabla, Pablo. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo Fotonica Aplicada.; Argentina
Fil: Morel, Eneas Nicolás. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo Fotonica Aplicada.; Argentina
Materia
topografía
tomografía
Microscopía
interferometría de baja coherencia
láser
estudio de materiales
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
2020-02-10T20:16:23Z
Repositorio
Repositorio Institucional Abierto (UTN)
Institución
Universidad Tecnológica Nacional
OAI Identificador
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