Topografía de superficies obtenida por interferometría de baja coherencia de alta resolución espacial

Autores
Sallese, Marcelo; Torga, Jorge Román; Tabla, Pablo; Morel, Eneas Nicolás
Año de publicación
2016
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión publicada
Descripción
La tomografía óptica coherente (OCT por sus siglas en inglés) es una técnica óptica no destructiva, que utiliza una fuente de luz de gran ancho espectral que se enfoca sobre un punto de la muestra para determinar la distancia (rigurosamente la diferencia de camino óptico)entre este punto y una superficie de referencia. El punto puede ser superficial o en una interfase interior de la muestra (transparente o semitransparente), permitiendo realizar topografías y/o tomografías en distintos materiales. El interferómetro de Michelson es el esquema experimental tradicional para esta técnica, en el cual un haz de luz se divide en dos ramas, una de referencia y la otra de muestra. La superposición de la luz reflejada en la muestra y en la referencia genera una señal de interferencia que nos da información de la diferencia de camino óptico entre ramas. A partir de esta información es posible obtener la distancia mencionada. En este trabajo se presenta una nueva configuración experimental en donde la señal de referencia y la señal reflejada en la muestra viajan por una misma rama, mejorando la calidad de la señal de interferencia. Entre los aspectos más importante de esta mejora podemos mencionar que se reduce considerablemente el ruido y los errores producidos por el movimiento relativo referencia-muestra y por la dispersión del índice de refracción. De esta manera es posible obtener imágenes 3D de superficies con una resolución espacial en el orden del micrón. Se presentan resultados obtenidos en topografía de superficies metálicas, vidrios y tintas impresas sobre papel.
Fil: Sallese Marcelo. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo Fotonica Aplicada.; Argentina.
Fil: Torga, Jorge Román. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo Fotonica Aplicada.; Argentina.
Fil: Tabla, Pablo. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo Fotonica Aplicada.; Argentina.
Fil: Morel, Eneas Nicolás. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo Fotonica Aplicada.; Argentina.
Materia
Interferometría
Topografía
Tomografía
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
2020-02-10T20:59:30Z
Repositorio
Repositorio Institucional Abierto (UTN)
Institución
Universidad Tecnológica Nacional
OAI Identificador
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