Diseño y construcción de un módulo de microscopía de barrido por sondeo local y de un sistema de nanoposicionamiento de alta precisión para un microscopio multianálisis

Autores
Martínez Reina, Hernán; Pujol, Miguel A.; Morel, Eneas Nicolás; Scarpettini, Alberto; Torga, Jorge Román
Año de publicación
2014
Idioma
español castellano
Tipo de recurso
documento de conferencia
Estado
versión aceptada
Descripción
Este trabajo presenta la técncia de interferometrá de baja coherencia orientada a la obtención de topografiá de superficies y tomografía de materiales. Se decribe la idea general, se presentan distintos esquemas experimentales y se muestran resultados obtenidos en distintos tipos de aplicaciones. Se pretende mostrar que esta técnica, todavía en etapa de laboratorio, puede ser en muchos casos una alternativa a las técncias convencionales o una solución a problemas por resolver, en el área de los ensayos no detructivos en materiales.
Fil: Pujol, Miguel A. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo de Nanofotonica; Argentina.
Fil: Morel, Eneas Nicolás. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo de Nanofotonica; Argentina.
Fil: Scarpettini, Alberto. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo de Nanofotonica; Argentina.
Fil: Torga, Jorge Román. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta. Grupo de Nanofotonica; Argentina.
Materia
UTN
Facultad Regional Delta
interferometrá
topografía de superficies
tomografía de materiales
Nivel de accesibilidad
acceso abierto
Condiciones de uso
2020-09-18T17:52:57Z
Repositorio
Repositorio Institucional Abierto (UTN)
Institución
Universidad Tecnológica Nacional
OAI Identificador
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